缺陷化学概论

封面 1
书名 3
版权 4
前言 5
目录 6
0 绪论 11
0.1 缺陷化学的任务及研究方法 11
0.2 研究缺陷化学的意义 11
0.3 缺陷化学的发展概况 13
1 晶体中的缺陷 14
1.1 晶体缺陷的类型 14
1.1.1 原子缺陷 15
1.1.2 电子缺陷 15
1.1.3 色心 16
1.1.4 线缺陷（位错） 17
1.1.5 面缺陷 21
1.1.6 体缺陷 24
1.2 点缺陷的表示方法及缺陷反应方程式 26
1.2.1 缺陷的类型及其符号 26
1.2.2 缺陷反应方程式 28
1.2.3 缺陷反应方程式的写法示例 29
1.3.1 产生点缺陷的热力学观点与缺陷的平衡浓度 31
1.3 点缺陷的浓度及原子浓度表示方法 31
1.3.2 缺陷和原子浓度的表示方法 33
1.3.3 热缺陷浓度的计算 34
1.4 结构元和构造单位 36
1.5 点缺陷的化学位 38
1.6 本征缺陷 40
1.6.1 肖特基缺陷 41
1.6.2 弗仑克尔缺陷 41
1.6.4 本征点缺陷的实例 42
1.6.3 判断晶体中热缺陷类型的主要因素 42
1.7 杂质缺陷 43
1.7.1 决定杂质缺陷形成的因素 43
1.7.2 杂质缺陷的类型 44
1.8 固溶体 46
1.8.1 固溶体的基本概念 46
1.8.2 固溶体的分类 47
1.8.3 连续置换型固溶体的形成条件 49
1.8.4 不等价置换固溶体中的缺陷形式 50
1.8.5 固溶体的研究方法及意义 52
1.9.1 对非计量化合物存在的认识 54
1.9 非化学计量化合物 54
1.9.2 对非计量化合物的规定 55
1.9.3 非化学计量化合物产生的原因及类型 55
1.9.4 非化学计量化合物特点及意义 59
习题与思考题 60
2 电子缺陷和能级 62
2.1 电子缺陷 62
2.1.1 固体中的能带模型 62
2.1.3 电子缺陷运动的两种模型 64
2.1.2 固体中的电子缺陷 64
2.1.4 各种原子缺陷与电子缺陷的关系 66
2.2 费密能级和电子的化学位 69
2.2.1 费密分布函数 69
2.2.2 费密能级及计算 70
2.2.3 费密能级的意义 71
2.3 简并能级 72
2.4 缺陷能级和杂质能级 73
2.4.1 点缺陷的局域能级及意义 73
2.4.2 本征原子缺陷的局域能级 74
2.4.3 杂质缺陷的局域能级 75
2.5 缺陷能级的计算 77
2.6 缺陷的缔合 79
2.6.1 缺陷缔合的作用力 79
2.6.2 缺陷缔合的类型 80
2.7 价键和点缺陷 81
2.7.1 判断缺陷是施主还是受主的几点规则 81
2.7.2 施主杂质和价键 82
2.7.3 受主杂质缺陷和价键 86
2.7.4 空位缺陷 88
2.8.1 ZrO2快离子导体（固体电解质） 89
2.8 无机材料中点缺陷的作用示例 89
2.8.2 半导体陶瓷 90
2.8.3 点缺陷在固体发光材料中的作用示例 94
习题与思考题 97
3 晶体中缺陷的平衡 98
3.1 缺陷的类化学平衡 98
3.1.1 缺陷平衡的准化学反应式 100
3.1.2 点缺陷的平衡与质量作用定律 101
3.1.3 缺陷平衡方程式的具体要求 102
3.2.1 本征电子平衡 104
3.2 本征电子平衡和电离平衡 104
3.2.2 电离平衡 105
3.3 化学计量晶体中的固有原子缺陷的平衡 106
3.3.1 产生原子缺陷的基本类型 106
3.3.2 晶体的点缺陷和化学整比性 107
3.3.3 肖特基缺陷的平衡 108
3.3.4 弗仑克尔缺陷的平衡 111
3.3.5 缺陷形成的动力学 111
3.4.1 具有肖特基缺陷的化合物中的等温平衡 112
3.4 纯晶体内固有缺陷的完全平衡 112
3.4.2 具有弗仑克尔缺陷的化合物MX中的等温平衡 116
3.4.3 BaO的缺陷模型 118
3.4.4 PbS中各类缺陷的完全平衡举例 123
3.5 纯晶体中的缺陷浓度与冷却速度的关系 128
3.6 纯晶体中缺陷浓度随温度的变化 130
3.7 实验限度——最大缺陷浓度 134
3.8 非化学计量化合物中缺陷的平衡 135
3.8.1 晶体与气相间的反应——由晶体蒸发或升华产生的非化学计量化合物的平衡 135
3.8.2 对化学计量的偏离及其与缺陷浓度的关系 137
3.8.3 由于氧过剩而产生的非化学计量缺陷的浓度与平衡常数的关系 138
3.8.4…